A Collection of Test Problems for Constrained Global Optimization Algorithms Pan
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Titel: A Collection of Test Problems for Constrained Global Optimization Algorithms, Einband: Taschenbuch, Autor: Panos M. Pardalos, Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, Sprache: Englisch, Seiten: 200, Maße: 235x155x12 mm, Gewicht: 312 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Algorithmus Test (psychologisch) Algorithm design Algorithmenentwurf Optimization Scientific Computing Test problems Testaufgaben VLSI Wissenschaftliches Rechnen algorithm algorithms global optimization globale Optimierung linear optimization nonlinear optimization programming.
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Seiten:200
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Gewicht:312
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Einband:Taschenbuch
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Marke:Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg
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Fachbereich:Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/In...
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Publikationstitel:A Collection of Test Problems for Constrained Global Optimizat...
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Buchtitel:A Collection of Test Problems for Constrained Global Optimizat...
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Film-/Fernseh-Titel:Keine Angabe
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Interpret:Keine Angabe
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Schlagworte:Algorithmus Test (psychologisch) Algorithm design Algorithm...
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ISBN:9783540530329
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Reihe:Lecture Notes in Computer Science
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Produktart:Lehrbuch
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Format:Taschenbuch
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Erscheinungsjahr:1990
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Anzahl der Seiten:200 Seiten
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Autor:Panos M. Pardalos
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Verlag:Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin
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Publikationsname:A Collection of Test Problems For Constrained Global Optimization Algorithms
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Sprache:Englisch
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