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Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits Rajesh Garg Taschenbuch xxii 2014

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Titel: Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits | Zusatz: Mitigating Soft Errors and Process Variations | Medium: Taschenbuch | Autor: Rajesh Garg | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xxii / 212 S. | Auflage: 2010 | Sprache: Englisch | Seiten: 236 | Maße: 235 x 155 x 13 mm | Erschienen: 28.11.2014 | Anbieter: Buchbär.

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Buchtitel:

Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits
Autor:

Rajesh Garg
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2014
Anzahl der Seiten:

236
Marke:

Springer US
Hersteller:

Springer US
Verlag:

Springer US
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

2010
Titelzusatz:

Mitigating Soft Errors and Process Variations
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1489985107

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