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Anomalous x-ray scattering for materials characterization. Atomic scale structur

Name: Anomalous x-ray scattering for materials characterization. Atomic scale structur
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Berlin, Springer, 2002. Hardcover Sprache: Englisch ISBN: 3540434437 EAN: 9783540434436 Bestell-Nr: 2488583 Bemerkungen: Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02706 9783540434436 .

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EAN:

9783540434436
ISBN:

3540434437
Buchtitel:

Anomalous x-ray scattering for materials characterization
Genre:

SA MATHEMATIK
Reihe:

Springer Tracts in Modern Physics
Produktart:

Lehrbuch
Format:

Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr:

2002
Anzahl der Seiten:

150 Seiten
Autor:

Yoshido Waseda
Verlag:

Springer-Verlag Gmbh, Springer Berlin
Publikationsname:

Anomalous X-Ray Scattering For Materials Characterization
Sprache:

Englisch

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