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Applied scanning probe methods. Part 9: Characterization. (=Nano Science and Tec

Name: Applied scanning probe methods. Part 9: Characterization. (=Nano Science and Tec
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Berlin, Springer 2008. LIX, 387 S. : Ill., graph. Darst. Hardcover Sprache: Englisch ISBN: 3540740821 EAN: 9783540740827 Bestell-Nr: 813178 Bemerkungen: Like new. Shrink wrapped. Schlagworte: Nanowisssenschaft, Nanotechnologie, Physik .

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EAN:

9783540740827
ISBN:

3540740821
Buchtitel:

Applied scanning probe methods. Part 9: Characterization
Genre:

Technik
Reihe:

Nanoscience And Technology
Produktart:

Lehrbuch
Format:

Gebundene Ausgabe
Erscheinungsjahr:

2008
Anzahl der Seiten:

448 Seiten
Autor:

Harald Fuchs, Masahiko Tomitori, Bharat Bhushan
Verlag:

Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin
Publikationsname:

Applied Scanning Probe Methods Ix
Sprache:

Englisch

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