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Applied Scanning Probe Methods V: Scanning Probe Microscopy Techniques by Bharat

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By Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Satoshi Kawata. Integrated Cantilevers and Atomic Force Microscopes. - Electrostatic Microscanner. - High-Frequency Dynamic Force Microscopy. - Torsional Resonance Microscopy and Its Applications.

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ISBN-13:

9783642072116
Book Title:

Applied Scanning Probe Methods V
ISBN:

9783642072116

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