Die Inhalte dieser Webseite enthalten Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten.

Beurteilung und Anwendung der Fehlercharakterisierung mittels Lifetime Spectrosco...

Ø 0.0

0 Bewertungen

60,21 €

Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si., ISBN 3839619173, ISBN-13 9783839619179, Brand New, Free P&P in the UK

Jetzt bei Ebay:

Book Title:

Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetim
Author:

Unknown
Language:

English
ISBN:

9783839619179

Standardversand:

Standard Int'l Postage 20,04 EUR - Lieferung zwischen 23. July 2025 und 29. July 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
Versand nach:

Weltweit
Versand ausgeschlossen:

Russische Föderation , Tadschikistan , Turkmenistan , Guadeloupe , Martinique , Saudi-Arabien , Jemen , Brasilien , Französisch-Guayana , , ... und weitere