Automatic Generation of Combinatorial Test Data Jian Zhang
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Titel: Automatic Generation of Combinatorial Test Data, Einband: Taschenbuch, Autor: Jian Zhang, Verlag: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg, Sprache: Englisch, Seiten: 104, Maße: 235x155x7 mm, Gewicht: 172 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: EDV / Theorie / Software-Entw. / Software Engineering Intelligenz / Künstliche Intelligenz KI Künstliche Intelligenz - AI Mathematik / Informatik, Computer Combinatorial testing Covering array Orthogonal array Test case generation.
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