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C. H. Stapper (u. a.) | Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | Buch (1990)

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Titel: Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | Zusatz: Volume 2 | Medium: Buch | Redaktion: C. H. Stapper (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xiii / 316 S. | Auflage: 1990 | Sprache: Englisch | Seiten: 334 | Maße: 241 x 160 x 23 mm | Erschienen: 31.10.1990 | Anbieter: Faboplay.

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  • Buchtitel:
    Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
  • Autor:
    C. H. Stapper
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    1990
  • Anzahl der Seiten:
    334
  • Marke:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Hersteller:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Verlag:
    Springer US, Springer US, New York, N.Y.
  • Format:
    Gebundene Ausgabe
  • Genre:
    Importe
  • Ausgabe:
    1990
  • Titelzusatz:
    Volume 2
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
  • Redaktion:
    C. H. Stapper
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    0306435314
  • Standardversand:
    DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 21. July 2025 und 26. July 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
  • Versand nach:
    Deutschland
  • Versand ausgeschlossen:
    Afrika , Asien , Mittelamerika und Karibik , Dänemark , Schweiz , Vatikan , Moldawien , Republik Kroatien , Portugal , Malta , ... und weitere

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