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Charles F. Hawkins (u. a.) | IDDQ Testing of VLSI Circuits | Taschenbuch (2012)

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Titel: IDDQ Testing of VLSI Circuits | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Charles F. Hawkins (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: iv / 124 S. / 14 s/w Illustr. | Auflage: Softcover reprint of the original 1st edition 1993 | Sprache: Englisch | Seiten: 132 | Maße: 254 x 178 x 8 mm | Erschienen: 12.10.2012 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

IDDQ Testing of VLSI Circuits
Autor:

Charles F. Hawkins
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2012
Anzahl der Seiten:

132
Marke:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Hersteller:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Verlag:

Springer US, Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

Softcover reprint of the original 1st edition 1993
Schlagworte:

Informatik, Schaltkreise und Komponenten , Bauteile, EDV, Elektro
Redaktion:

Charles F. Hawkins
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1461363772

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