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David J. Weiss Alper Sahin Computerized Adaptive Testing (Gebundene Ausgabe)

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128,77 €

Autor: David J. Weiss, Alper Sahin. Produktart: Gebundene Ausgabe. Länge: 178mm. Verlag: Guilford Press. Genre: Society & Culture. Höhe: 254mm. Sprache: Englisch.

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