David J. Weiss Alper Sahin Computerized Adaptive Testing (Gebundene Ausgabe)
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Autor: David J. Weiss, Alper Sahin. Produktart: Gebundene Ausgabe. Länge: 178mm. Verlag: Guilford Press. Genre: Society & Culture. Höhe: 254mm. Sprache: Englisch.
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Autor:Alper Sahin
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Buchtitel:Computerized Adaptive Testing
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EAN:9781462554515
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Subtitle:From Concept to Implementation
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ISBN:9781462554515
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Produktart:Gebundene Ausgabe
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Erscheinungsdatum:15.07.2024
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Sprache:Englisch
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Herstellungsland und -region:US
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Höhe:254mm
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Genre:Society & Culture
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Verlag:Guilford Press
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Länge:178mm
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Gewicht:820g
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