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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits: 2nd Edition by Manoj

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By Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez. Step-by-step handling of defect modeling, defect-oriented testing, yield modeling and its usage in common economics practices enables deeper understanding of concepts.

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ISBN-13:

9780387465463
Book Title:

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
ISBN:

9780387465463

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