Defects and Impurities in Silicon Materials: An Introduction to Atomic-Level Sil
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Produktart:Bücher
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ISBN-10:4431557997
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Buchtitel:Defects and Impurities in Silicon Materials
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Untertitel:An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineerin
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Autor:Unbekannt
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Erscheinungsjahr:März 2016
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Verlag:Springer Japan
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Format:Taschenbuch
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Sprache:Englisch
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Höhe:2.6 cm
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Gewicht:848 g
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Länge:23.5 cm
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Breite:15.5 cm
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ISBN:4431557997
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