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Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures

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180,90 €

Titel: Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Jan Stehr (u. a.) | Inhalt: Kartoniert / Broschiert | Sprache: Englisch | Maße: 14 x 152 x 229 mm | Erschienen: 21.06.2018 | Anbieter: Buchbär.

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