Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty, Smita Krishnaswam
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Produktart:Bücher
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ISBN-10:9048196434
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Buchtitel:Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under
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Autor:Smita Krishnaswamy, John P. Hayes, Igor L. Markov
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Erscheinungsjahr:September 2012
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Verlag:Springer Netherlands
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Format:Gebundene Ausgabe
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Sprache:Englisch
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Höhe:1.3 cm
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Gewicht:377 g
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Länge:24.1 cm
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Breite:16 cm
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ISBN:9048196434
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