Design for Testability, Debug and Reliability Rolf Drechsler
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Titel: Design for Testability, Debug and Reliability, Untertitel: Next Generation Measures Using Formal Techniques, Einband: Buch, Autor: Rolf Drechsler, Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 188, Maße: 241x160x16 mm, Gewicht: 453 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Circuit Design for Reliability Digital System Test SoC Testing Testability, debug, and reliability Testable Design.
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