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Hui Xie (u. a.) | Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics | Buch | Englisch

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Titel: Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics | Zusatz: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments | Medium: Buch | Autor: Hui Xie (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xiv / 344 S. | Auflage: 2012 | Sprache: Englisch | Seiten: 360 | Maße: 241 x 160 x 27 mm | Erschienen: 28.09.2011 | Anbieter: Faboplay.

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Publikationsname:

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics
Autor:

Hui Xie
Produktart:

Mathematik
Erscheinungsjahr:

2011
Sprache:

Englisch
Anzahl der Seiten:

360
Marke:

Springer-Verlag GmbH, Springer Berlin Heidelberg
Hersteller:

Springer-Verlag GmbH, Springer Berlin Heidelberg
Herstellernummer:

12841448
Verlag:

Springer-Verlag GmbH, Springer Berlin Heidelberg
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Ausgabe:

2012
Titelzusatz:

Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments
Schlagworte:

Maschinenbau, Fertigungstechnik, Regelungstechnik, Technik, Elekt
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3642203280

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