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Einführung in die Rastertunnelmikroskopie dritte Ausgabe von C. Julian Chen (E

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Title Introduction to Scanning Tunneling Microscopy Third Edition. Together with the atomic force microscope (AFM), it provides non-destructive atomic and subatomic resolution on surfaces. Especially, in recent years, internal details of atomic and molecular wavefunctions are observed and mapped with negligible disturbance.

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