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James W Grenning Test-Driven Development for Embedded C

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Titel: Test-Driven Development for Embedded C, Einband: Taschenbuch, Autor: James W Grenning, Verlag: Pragmatic Programmers, Sprache: Englisch, Seiten: 356, Maße: 233x191x23 mm, Gewicht: 680 g, Verkäufer: bochumer-buchshop, Schlagworte: Computers - Languages / Programming COMPUTERS / Programming Languages / C COMPUTERS / Software Development & Engineering / Quality Assurance & Testing.

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