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JEOL 840F FE OP Cont Unit SEM Rasterelektronenmikroskop

500,28 €

JEOL 840F FE OP Cont Unit. Pulled from a decommissioned JEOL 840F SEM by a professional and well seasoned Electron Microscope Field Service Engineer. May be compatible with other JEOL SEMs or FEG SEMs.No worn pins or signs of overheating or peeling.

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