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Johan Liu (u. a.) | Reliability of Microtechnology | Taschenbuch | Englisch

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Titel: Reliability of Microtechnology | Zusatz: Interconnects, Devices and Systems | Medium: Taschenbuch | Autor: Johan Liu (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xiii / 204 S. | Auflage: 2011 | Sprache: Englisch | Seiten: 220 | Maße: 235 x 155 x 13 mm | Erschienen: 11.10.2014 | Anbieter: Faboplay.

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