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Learning from VLSI Design Experience Weng Fook Lee

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139,09 €

Titel: Learning from VLSI Design Experience, Einband: Buch, Autor: Weng Fook Lee, Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 244, Maße: 241x160x19 mm, Gewicht: 535 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Architektur (EDV) Rechnerarchitektur Elektronik / Mikroelektronik Mikroelektronik Elektronik / Schaltung Schaltung - Grundschaltung Standardschaltung CMOS VLSI design Design for Test VLSI Physical Design Automation VLSI Testing VLSI Verification.

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