Langzeitzuverlässigkeit von Nanometer-VLSI-Systemen: Modellierung, Analyse und
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Presents a cross-layer approach to transistor aging modeling, analysis and mitigation, spanning multiple abstraction levels;.
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EAN:9783030261740
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UPC:9783030261740
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ISBN:9783030261740
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Book Title:Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: M
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Item Length:23.4 cm
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