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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimiza

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Chapter 1. - Chapter 2. Physics Based EM Modeling. - Chapter 3. - Chapter 4. - Chapter 5. Dynamic EM Models For Transient Stress Evolution and Recovery. - Chapter 6.

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ISBN-13:

9783030261740
Book Title:

Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
ISBN:

9783030261740

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