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M. C. Bhuvaneswari (u. a.) | Test Generation of Crosstalk Delay Faults in...

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Titel: Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits | Medium: Buch | Autor: M. C. Bhuvaneswari (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xi / 156 S. / 42 s/w Illustr. / 7 farbige Illustr. / 156 p. 49 illus. / 7 illus. in color. | Auflage: 1st edition 2019 | Sprache: Englisch | Seiten: 168 | Maße: 241 x 160 x 15 mm | Erschienen: 10.10.2018 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Autor:

M. C. Bhuvaneswari
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2018
Anzahl der Seiten:

168
Marke:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Hersteller:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Herstellernummer:

978-981-13-2492-5
Verlag:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Importe
Ausgabe:

1st edition 2019
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

9811324921

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