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Marius Strobl | Virtualization for Reliable Embedded Systems | Taschenbuch

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Titel: Virtualization for Reliable Embedded Systems | Medium: Taschenbuch | Autor: Marius Strobl | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: 264 S. / 8 farbige Illustr. | Auflage: 2. Auflage | Sprache: Englisch | Seiten: 264 | Maße: 210 x 148 x 19 mm | Erschienen: 13.09.2013 | Anbieter: Faboplay.

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Publikationsname:

Virtualization for Reliable Embedded Systems
Autor:

Marius Strobl
Produktart:

Mathematik
Erscheinungsjahr:

2013
Sprache:

Englisch
Anzahl der Seiten:

264
Marke:

GRIN Verlag
Hersteller:

GRIN Verlag
Verlag:

GRIN Verlag
Format:

Taschenbuch
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Ausgabe:

2. Auflage
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Technik
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3656490716

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