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Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs Alex

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Titel: Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs, Einband: Buch, Autor: Alexandra Zimpeck, Verlag: Springer International Publishing, Springer International Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 148, Maße: 241x160x14 mm, Gewicht: 395 g, Verkäufer: buch-mimpf, Schlagworte: Fault-Tolerant Design FinFET soft errors Hardware Reliability circuit-level soft error mitigation soft error analysis.

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