Nanofabrikation mit fokussierten Ionen- und Elektronenstrahlen: Prinzipien und Anwendung
501,53 €
Historical evolution of FIB technology: from circuit editing to nanoprototypingPh. The theory of bright field electron and field ion emission sourcesR.Forbes2. Simulation of focused ion beam millingHeung-Bae Kim, Gerhard Hobler6.
Jetzt bei Ebay:
![Produktbild - Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications by Nan Yao [Hardback]](https://i.ebayimg.com/thumbs/images/g/GsUAAeSwf6loSh1w/s-l140.jpg)
