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Neelesh Jain | Testing Embedded System | Taschenbuch | Englisch (2019) | 260 S.

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67,95 €

Titel: Testing Embedded System | Medium: Taschenbuch | Autor: Neelesh Jain | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: 260 S. | Sprache: Englisch | Seiten: 260 | Maße: 220 x 150 x 17 mm | Erschienen: 16.07.2019 | Anbieter: Faboplay.

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  • Publikationsname:
    Testing Embedded System
  • Autor:
    Neelesh Jain
  • Produktart:
    Mathematik
  • Erscheinungsjahr:
    2019
  • Sprache:
    Englisch
  • Anzahl der Seiten:
    260
  • Marke:
    LAP LAMBERT Academic Publishing
  • Hersteller:
    LAP LAMBERT Academic Publishing
  • Verlag:
    LAP LAMBERT Academic Publishing
  • Format:
    Taschenbuch
  • Genre:
    Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Technik
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    3330331178
  • Standardversand:
    DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 16. July 2025 und 17. July 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
  • Versand nach:
    Deutschland
  • Versand ausgeschlossen:
    Afrika , Asien , Mittelamerika und Karibik , Dänemark , Schweiz , Vatikan , Moldawien , Republik Kroatien , Portugal , Malta , ... und weitere

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