Parameterschätzung in stochastischen Volatilitätsmodellen von Bishwal, Jaya P. N.
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Fractional Ornstein-Uhlenbeck Processes, Levy-Ornstein-Uhlenbeck Processes and Fractional Levy-Ornstein-Uhlenbeck Processes. - Inference for General Semimartingales and Selfsimilar Processes. - Estimation in Gamma-Ornstein-Uhlenbeck Stochastic Volatility Model.
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EAN:9783031038600
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UPC:9783031038600
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ISBN:9783031038600
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Format:Hardback, 613 pages, 2022 Edition
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Author:Bishwal, Jaya P. N.
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Item Height:3.5 cm
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Item Length:23.4 cm
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Item Weight:1.12 kg
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Item Width:15.6 cm
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Language:Eng
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Publisher:Springer International Publishing
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