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Partikelbild-Velocimetrie: Ein praktischer Leitfaden von Raffel, Markus [gebunden]

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Christian Willert received his Bachelor of Science in Applied Science from the University of California at San Diego (UCSD) in 1987. Fulvio Scarano graduated in Aerospace Engineering at University of Naples (1996).

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9783319688510
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9783319688510
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9783319688510
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