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Patrick Girard (u. a.) | Machine Learning Support for Fault Diagnosis of...

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Titel: Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Patrick Girard (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xi / 316 S. / 165 s/w Illustr. / 316 p. 165 illus. | Auflage: 2023 | Sprache: Englisch | Seiten: 328 | Maße: 235 x 155 x 18 mm | Erschienen: 14.03.2024 | Anbieter: Faboplay.

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Publikationsname:

Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip
Autor:

Patrick Girard
Produktart:

Mathematik
Erscheinungsjahr:

2024
Sprache:

Englisch
Anzahl der Seiten:

328
Marke:

Springer Nature Switzerland, Springer International Publishing, S
Hersteller:

Springer Nature Switzerland, Springer International Publishing, S
Verlag:

Springer Nature Switzerland, Springer International Publishing, S
Format:

Taschenbuch
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Ausgabe:

2023
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
Redaktion:

Patrick Girard
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3031196414

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