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Power- And Thermal-Aware Testing of System-on-Chip Rajit Karmakar

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Titel: Power- And Thermal-Aware Testing of System-on-Chip, Einband: Taschenbuch, Autor: Rajit Karmakar, Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing, Sprache: Englisch, Seiten: 148, Maße: 220x150x9 mm, Gewicht: 238 g, Verkäufer: buch-mimpf.

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