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Raimund Ubar (u. a.) | Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip

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Titel: Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip | Medium: Buch | Redaktion: Raimund Ubar (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: Gebunden | Sprache: Englisch | Seiten: 580 | Maße: 286 x 221 x 35 mm | Erschienen: 28.01.2011 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
Autor:

Raimund Ubar
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2011
Anzahl der Seiten:

580
Marke:

Information Science Reference
Hersteller:

Information Science Reference
Verlag:

Information Science Reference
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Importe
Schlagworte:

Informatik, Systemanalyse und -design, EDV
Redaktion:

Raimund Ubar
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1609602129

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