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Reflection Electron Microscopy and spectotrophy for surface analysis Wang, Zhong

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Revised ed. Cambridge University Press 2008. 460 S.; Ill. Paperback Sprache: Englisch ISBN: 0521017955 EAN: 9780521017954 Bestell-Nr: 812644 Bemerkungen: Like new. Shrink wrapped. Schlagworte: Elektronenmikroskopie, Spektroskopie .

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EAN:

9780521017954
ISBN:

0521017955
Verlag:

Cambridge University Press
Erscheinungsjahr:

2008
Autor:

Wang, Zhong Lin
Buchtitel:

Reflection Electron Microscopy and spectotrophy for surface anal
Sprache:

Englisch
Format:

Paperback
Genre:

Physik
Produktart:

Bücher

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