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Robert Entner | Modeling and Simulation of Negative Bias Temperature Instability

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Titel: Modeling and Simulation of Negative Bias Temperature Instability | Zusatz: Degradation of Field-Effect Transistors | Medium: Taschenbuch | Autor: Robert Entner | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: 144 S. | Ausstattung / Beilage: Paperback | Sprache: Englisch | Seiten: 144 | Maße: 220 x 150 x 9 mm | Erschienen: 03.07.2012 | Anbieter: Faboplay.

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Publikationsname:

Modeling and Simulation of Negative Bias Temperature Instability
Autor:

Robert Entner
Produktart:

Mathematik
Erscheinungsjahr:

2012
Sprache:

Englisch
Anzahl der Seiten:

144
Marke:

AV Akademikerverlag
Hersteller:

AV Akademikerverlag
Verlag:

AV Akademikerverlag
Format:

Taschenbuch
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Titelzusatz:

Degradation of Field-Effect Transistors
Schlagworte:

Hardware, Computerhardware, Informatik, EDV
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3639435885

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