Die Inhalte dieser Webseite enthalten Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten.

Ruijing Shen (u. a.) | Statistical Performance Analysis and Modeling...

Ø 0.0

0 Bewertungen

92,95 €

Titel: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs | Medium: Buch | Autor: Ruijing Shen (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xxx / 306 S. | Auflage: 2012 | Sprache: Englisch | Seiten: 336 | Maße: 241 x 160 x 23 mm | Erschienen: 18.03.2012 | Anbieter: Faboplay.

Jetzt bei Ebay:

Buchtitel:

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nano
Autor:

Ruijing Shen
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2012
Anzahl der Seiten:

336
Marke:

Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Hersteller:

Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Herstellernummer:

80027393
Verlag:

Springer New York, Springer US, New York, N.Y.
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Importe
Ausgabe:

2012
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Schaltkreise und
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1461407877

Standardversand:

DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 24. June 2025 und 30. June 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
Versand nach:

Deutschland
Versand ausgeschlossen:

Afrika , Asien , Mittelamerika und Karibik , Dänemark , Schweiz , Vatikan , Moldawien , Republik Kroatien , Portugal , Malta , ... und weitere