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Santanu Chattopadhyay | Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and...

94,95 €

Titel: Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems | Medium: Buch | Autor: Santanu Chattopadhyay | Einband: Gebunden | Sprache: Englisch | Seiten: 138 | Maße: 222 x 145 x 11 mm | Erschienen: 25.04.2018 | Anbieter: Faboplay.

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  • Buchtitel:
    Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
  • Autor:
    Santanu Chattopadhyay
  • Sprache:
    Englisch
  • Erscheinungsjahr:
    2018
  • Anzahl der Seiten:
    138
  • Marke:
    CRC Press
  • Hersteller:
    CRC Press
  • Verlag:
    CRC Press
  • Format:
    Gebundene Ausgabe
  • Genre:
    Importe
  • Schlagworte:
    Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, TECHNOLOGY & ENGI
  • Herstellungsland und -region:
    Deutschland
  • ISBN:
    0815378823
  • Standardversand:
    DHL Paket 2,95 EUR - Lieferung zwischen 02. July 2025 und 08. July 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
  • Versand nach:
    Deutschland
  • Versand ausgeschlossen:
    Afrika , Asien , Mittelamerika und Karibik , Dänemark , Schweiz , Vatikan , Moldawien , Republik Kroatien , Portugal , Malta , ... und weitere

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