Sarah Fearn An Introduction to Time-of-Flight Secondar (Taschenbuch) (US IMPORT)
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Information fehlt?. Produktart: Taschenbuch. Autor: Sarah Fearn. Zustand: Neu. Gewicht: 333g. While providing a brief overview of the principles of SIMS, it also provides examples of how dual-beam ToF-SIMS is used to investigate a range of materials systems and properties.
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Autor:Sarah Fearn
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Verlag:Morgan & Claypool Publishers
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Buchtitel:An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry
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ISBN-10:1681740249
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EAN:9781681740249
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ISBN:9781681740249
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Genre:Technology & Engineering
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Thematik:Science Nature & Math
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Erscheinungsdatum:30.10.2015
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Sprache:Englisch
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Herstellungsland und -region:US
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Höhe:254mm
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Länge:178mm
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Gewicht:333g
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Buchreihe:IOP Concise Physics
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Produktart:Mechanical & Materials Engineering
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