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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Joseph I. Go*dstein (u. a.)

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Titel: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis | Medium: Taschenbuch | Autor: Joseph I. Go*dstein (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xxiii / 550 S. / 137 s/w Illustr. / 409 farbige Illustr. / 550 p. 546 illus. / 409 illus. in color. | Auflage: 4th edition 2018 | Sprache: Englisch | Seiten: 576 | Maße: 279 x 210 x 29 mm | Erschienen: 30.08.2018 | Anbieter: Buchbär.

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Buchtitel:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Autor:

Joseph I. Go*dstein
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2018
Anzahl der Seiten:

576
Marke:

Springer US, Springer New York
Hersteller:

Springer US, Springer New York
Verlag:

Springer US, Springer New York
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

4th edition 2018
Schlagworte:

Maschinenbau, Fertigungstechnik, Biophysik, Technik, Wissenschaft
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

1493982699

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