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Soft Error Reliability of VLSI Circuits Analysis and Mitigation Techniques Buch

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Titel: Soft Error Reliability of VLSI Circuits | Zusatz: Analysis and Mitigation Techniques | Medium: Taschenbuch | Autor: Mohsen Raji (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xiii / 114 S. / 30 s/w Illustr. / 9 farbige Illustr. / 114 p. 39 illus. / 9 illus. in color. | Auflage: 1st edition 2021 | Sprache: Englisch | Seiten: 128 | Maße: 235 x 155 x 8 mm | Erschienen: 14.10.2021 | Anbieter: Buchbär.

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Publikationsname:

Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Autor:

Mohsen Raji
Produktart:

Mathematik
Erscheinungsjahr:

2021
Sprache:

Englisch
Anzahl der Seiten:

128
Marke:

Springer International Publishing
Hersteller:

Springer International Publishing
Verlag:

Springer International Publishing
Format:

Taschenbuch
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Ausgabe:

1st edition 2021
Titelzusatz:

Analysis and Mitigation Techniques
Schlagworte:

Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik, Kybernetik und Sy
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3030516121

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