Die Inhalte dieser Webseite enthalten Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten.

Suchit Sharma | Scanning Tunneling Microscope and Atomic Force Microscopy | Buch

Ø 0.0

0 Bewertungen

13,99 €

Titel: Scanning Tunneling Microscope and Atomic Force Microscopy | Medium: Taschenbuch | Autor: Suchit Sharma | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: 20 S. | Auflage: 1. Auflage | Sprache: Englisch | Seiten: 20 | Maße: 210 x 148 x 2 mm | Erschienen: 20.12.2017 | Anbieter: Faboplay.

Jetzt bei Ebay:

Publikationsname:

Scanning Tunneling Microscope and Atomic Force Microscopy
Autor:

Suchit Sharma
Produktart:

Mathematik
Erscheinungsjahr:

2017
Sprache:

Englisch
Anzahl der Seiten:

20
Marke:

GRIN Verlag
Hersteller:

GRIN Verlag
Verlag:

GRIN Verlag
Format:

Taschenbuch
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Ausgabe:

1. Auflage
Schlagworte:

Technik, Ingenieurswesen, Maschinenbau allgemein
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3668588260

Standardversand:

Deutsche Post Brief 0,35 EUR - Lieferung zwischen 28. June 2025 und 01. July 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
Standardversand:

DHL Paket 2,35 EUR - Lieferung zwischen 27. June 2025 und 03. July 2025 (bei heutigem Zahlungseingang)
Versand nach:

Deutschland
Versand ausgeschlossen:

Afrika , Asien , Mittelamerika und Karibik , Dänemark , Schweiz , Vatikan , Moldawien , Republik Kroatien , Portugal , Malta , ... und weitere