Thermal Testing of Integrated Circuits by Josep Altet
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Temperature has been always considered as an appreciable magnitude to detect failures in electric systems. Abnormal status of this variable, both too high and too low, is sign of abnormal behavior in electronic systems.
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EAN:9781402070761
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UPC:9781402070761
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ISBN:9781402070761
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Format:Hardback, 204 pages, 2002 Edition
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Breite:16.1 cm
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Gewicht:0.36 kg
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Höhe:1.5 cm
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Länge:25.3 cm
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Sprache:Eng
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