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Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits by Xiao Liu (English) Pape

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By Xiao Liu, Qiang Xu. - Multiplexed Tracing for Design Error. - Tracing for Electrical Error. - Interconnection Fabric for Flexible Tracing. - Interconnection Fabric for Systematic Tracing. Table of Contents.

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ISBN-13:

9783319375946
Book Title:

Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
ISBN:

9783319375946

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