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VLSI Testprinzipien und Architekturen: Design für Test - HardBack NEU Wang, Lau

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Title:-VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Systems on Silicon). Author:-Wang, Laung-Terng. Genre:-Computer architecture & logic design.

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Weight:

1827grams
Subjects:

Engineering & Technology
Pages:

808
Topic:

Engineering
Book Title:

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (
ISBN:

9780123705976

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