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X-ray diffraction at elevated temperatures: A method for in situ process analysi

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VCH 1993. 268 Seiten; gebundene Ausgabe Sprache: Englisch ISBN: 0895737450 EAN: 9780895737458 Bestell-Nr: 2159070 Bemerkungen: Der Erhaltungszustand des hier angebotenen Werks ist trotz seiner Bibliotheksnutzung sehr sauber und kann entsprechende Merkmale aufweisen (Rückenschild, Instituts-Stempel...). In ENGLISCHER Sprache. .

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EAN:

9780895737458
ISBN:

0895737450
Verlag:

VCH
Erscheinungsjahr:

1993
Autor:

Chung, D.D.L., P.W. DeHaven H. Arnold a. o
Buchtitel:

X-ray diffraction at elevated temperatures: A method for in situ
Sprache:

Englisch
Format:

gebundene Ausgabe
Genre:

90 Varia
Produktart:

Bücher

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