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X-Ray Diffraction for Materials Research From Fundamentals to Applications Lee

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121,90 €

Titel: X-Ray Diffraction for Materials Research | Zusatz: From Fundamentals to Applications | Medium: Taschenbuch | Autor: Myeongkyu Lee | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: Einband - flex.(Paperback) | Sprache: Englisch | Seiten: 302 | Maße: 229 x 152 x 16 mm | Erschienen: 31.03.2021 | Anbieter: Buchbär.

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