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Yen-Wei Chen (u. a.) | Recent Advances in Logo Detection Using Machine...

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Titel: Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms | Zusatz: Theory and Practice | Medium: Buch | Autor: Yen-Wei Chen (u. a.) | Einband: Gebunden | Inhalt: xii / 119 S. / 1 s/w Illustr. / 63 farbige Illustr. / 119 p. 64 illus. / 63 illus. in color. | Auflage: 2024 | Sprache: Englisch | Seiten: 132 | Maße: 241 x 160 x 13 mm | Erschienen: 31.05.2024 | Anbieter: Faboplay.

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Publikationsname:

Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigm
Autor:

Yen-Wei Chen
Produktart:

Mathematik
Erscheinungsjahr:

2024
Sprache:

Englisch
Anzahl der Seiten:

132
Marke:

Springer International Publishing, Springer International Publish
Hersteller:

Springer International Publishing, Springer International Publish
Verlag:

Springer International Publishing, Springer International Publish
Format:

Gebundene Ausgabe
Genre:

Mathematik, Naturwissenschaften, Technik, Medizin
Ausgabe:

2024
Titelzusatz:

Theory and Practice
Schlagworte:

Technik allgemein, Künstliche Intelligenz, Technik, Allgemeines,
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

3031598105

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