Zeev Zalevsky (u. a.) | New Approaches to Image Processing Based Failure...
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Titel: New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices | Medium: Taschenbuch | Autor: Zeev Zalevsky (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Sprache: Englisch | Seiten: 110 | Maße: 228 x 151 x 10 mm | Erschienen: 18.11.2013 | Anbieter: Faboplay.
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