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Anirban Sengupta (u. a.) | VLSI Design and Test | Taschenbuch | Englisch (2019)

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Titel: VLSI Design and Test | Zusatz: 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4-6, 2019, Revised Selected Papers | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Anirban Sengupta (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xvi / 775 S. / 209 s/w Illustr. / 336 farbige Illustr. / 775 p. 545 illus. / 336 illus. in color. | Auflage: 1st edition 2019 | Sprache: Englisch | Seiten: 792 | Maße: 235 x 155 x 43 mm | Erschienen: 18.08.2019 | Anbieter: Faboplay.

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