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Brajesh Kumar Kaushik (u. a.) | VLSI Design and Test | Taschenbuch | Englisch

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Titel: VLSI Design and Test | Zusatz: 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017, Revised Selected Papers | Medium: Taschenbuch | Redaktion: Brajesh Kumar Kaushik (u. a.) | Einband: Kartoniert / Broschiert | Inhalt: xxi / 815 S. / 486 s/w Illustr. / 815 p. 486 illus. | Auflage: 1st edition 2017 | Sprache: Englisch | Seiten: 840 | Maße: 235 x 155 x 45 mm | Erschienen: 22.12.2017 | Anbieter: Faboplay.

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Buchtitel:

VLSI Design and Test
Autor:

Brajesh Kumar Kaushik
Sprache:

Englisch
Erscheinungsjahr:

2017
Anzahl der Seiten:

840
Marke:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Hersteller:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Herstellernummer:

978-981-10-7469-1
Verlag:

Springer Singapore, Springer Nature Singapore
Format:

Taschenbuch
Genre:

Importe
Ausgabe:

1st edition 2017
Titelzusatz:

21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29
Schlagworte:

Hardware, Netzwerk-Hardware, Informatik, EDV, Bauelement, elektro
Redaktion:

Brajesh Kumar Kaushik
Herstellungsland und -region:

Deutschland
ISBN:

9811074690

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